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Deep Learning-Assisted Trap Extraction Method from Noise Power Spectral Density for MOSFETs
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2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-7 Apr, 2024
Author
Xu, Jinghan
Zhou, Zheng
Fan, Mengqi
Sun
,
Zixuan
Wang, Shuhan
Tang, Zili
Liu, Fei
Liu, Xiaoyan
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2
Ultra-Fast Oxide Traps in Sub-20-nm DRAM Technology: from Characterization to Physical origin identification
회의자료
issue
2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2024 8th IEEE. :1-3 Mar, 2024
Author
Wang, Da
Liu, Yong
Xue, Yongkang
Ren, Pengpeng
Sun
,
Zixuan
Wang, Zirui
Liu, Yueyang
Cheng, Zhijun
Yang, Haiyang
Liu, Xiangli
Wu, Blacksmith
Cao, Kanyu
Wang, Runsheng
Ji, Zhigang
Huang, Ru
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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3
New Insights into the Interface Trap Generation during Hot Carrier Degradation: Impacts of Full-band Electronic Resonance, (100) vs (110), and nMOS vs pMOS
회의자료
issue
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023
Author
Wang, Zirui
Lu, Haoran
Sun
,
Zixuan
Shen, Cong
Peng, Baokang
Li, Wen-Feng
Xue, Yongkang
Wang, Da
Ji, Zhigang
Zhang, Lining
Liu, Yue-Yang
Jiang, Xiangwei
Wang, Runsheng
Huang, Ru
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
4
Comprehensive Study of NBTI and Off-State Reliabilty in Sub-20 nm DRAM Technology: Trap Identification, Compact Aging Model, and Impact on Retention Degradation
회의자료
issue
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023
Author
Sun
,
Zixuan
Cai, Puyang
Song, Jiahao
Wang, Da
Liu, Zhuyou
Zhou, Longda
Zhu, Tianxiang
Xue, Yongkang
Liu, Yong
Wang, Zirui
Luo, Junwei
Deng, Huixiong
Wang, Yuan
Ji, Zhigang
Wang, Runsheng
Huang, Ru
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Database : IEEE Xplore Digital Library
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Investigation of Interplays between Body Biasing and Hot Carrier Degradation (HCD) in Advanced NMOS FinFETs
회의자료
issue
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :P72.TX-1-P72.TX-5 Apr, 2024
Author
Sun
,
Zixuan
Xue, Yongkang
Lu, Haoran
Ren, Pengpeng
Wang, Zirui
Ji, Zhigang
Wang, Runsheng
Huang, Ru
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Database : IEEE Xplore Digital Library
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6
Sub-20-nm DRAM Technology under Negative Bias Temperature Instability (NBTI): from Characterization to Physical Origin Identification
회의자료
issue
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :9B.2-1-9B.2-7 Apr, 2024
Author
Wang, Da
Xue, Yongkang
Liu, Yong
Ren, Pengpeng
Sun
,
Zixuan
Wang, Zirui
Liu, Yueyang
Cheng, Zhijun
Yang, Haiyang
Liu, Xiangli
Wu, Blacksmith
Cao, Kanyu
Wang, Runsheng
Ji, Zhigang
Huang, Ru
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Database : IEEE Xplore Digital Library
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Accelerating Device-Circuit Self-Heating Simulations with Dynamic Time Evolution for GAAFET
회의자료
issue
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :7C.1-1-7C.1-6 Apr, 2024
Author
Chen, Sihao
Li, Yu
Peng, Baokang
Sun
,
Zixuan
Zhang, Lining
Wang, Runsheng
Huang, Ru
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Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
8
New Insights into the Random Telegraph Noise (RTN) in FinFETs at Cryogenic Temperature
회의자료
issue
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :6A.3-1-6A.3-7 Apr, 2024
Author
Wang, Zirui
Wang, Haoran
Wang, Yuxiao
Sun
,
Zixuan
Zeng, Lang
Wang, Runsheng
Huang, Ru
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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9
Regulate solar irradiation with smart microshutters
학술저널
issue
Journal of Coatings Technology and Research
. 21(3):1125-1130
Author
Jiang, Kewei
Sun
,
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Fan, Xingce
Tang, Xiao
Li, Guoqun
Li, Mingze
Qiu, Teng
Hao, Qi
Aff1, IDs11998023008815_cor8
DB Label
Database : Springer Nature Journals
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조회 - Impact Factor (JCR)
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Double-sided Row Hammer Effect in Sub-20 nm DRAM: Physical Mechanism, Key Features and Mitigation
회의자료
issue
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023 IEEE International. :1-10 Mar, 2023
Author
Zhou, Longda
Li, Jie
Qiao, Zheng
Ren, Pengpeng
Sun
,
Zixuan
Wang, Jianping
Wu, Blacksmith
Ji, Zhigang
Wang, Runsheng
Cao, Kanyu
Huang, Ru
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Database : IEEE Xplore Digital Library
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