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elsevier b.v.
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Selection for Duration of Fertility and Mule Duck White Plumage Colour in a Synthetic Strain of Ducks (Anas platyrhynchos)
학술저널
issue
Asian-Australasian journal of animal sciences
. 2015 28(5):605-611
Author
Liu, H.C.
Huang, J.F.
Lee, S.R.
Liu, H.L.
Hsieh, C.H.
Huang, C.W.
Huang, M.C.
Tai, C.
Poivey, J.P.
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Cheng, Y.S.
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Pixel design for Improving Transmittance in OCB LCD
회의자료
issue
한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권1호
. 2007 2007:395-398
Author
Lee, K.C.
Sha, Y.A.
Su, P.J.
Hsieh, C.H.
Chang, K.H.
Hsiao, C.C.
Fuh, S.Y.
Cheng, W.Y.
Liao, Y.C.
Yang, J.C.
Lo, K-L
Lee, D.W.
Chang, Y.P.
Shiu, J.W.
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Database : KoreaScience
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Open Access (KoreaScience)
3
Test Methods of Sealing Material for Plastic Liquid Crystal Display Cells
회의자료
issue
한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
. 2006 2006:830-833
Author
Hsiao, C.C.
Liao, Y.C.
Chang, K.H.
Sha, Y.A.
Su, P.J.
Hsieh, C.H.
Shiu, J.W.
Fuh, S.Y.
Lin, C.Y.
Cheng, W.Y.
Yang, J.C.
Lo, K.L.
Lee, D.W.
Lee, K.C.
Chang, Y.P.
DB Label
Database : KoreaScience
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Open Access (KoreaScience)
4
Manufacturing a Single Cell Gap Transflective Liquid Crystal Display by Using Ink Jet Printing Technology
회의자료
issue
한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
. 2006 2006:1533-1536
Author
Sha, Y.A.
Su, P.J.
Hsieh, C.H.
Chang, K.H.
Chen,
C.H
.
Hsiao, C.C.
Shiu, J.W.
Fuh, S.Y.
Cheng, W.Y.
Liao, Y.C.
Yang, J-C
Lo, K.L.
Lee, D.W.
Lee, K.C.
Chang, Y.P.
DB Label
Database : KoreaScience
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Open Access (KoreaScience)
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The optical design method for dual-mode transflective LCD
회의자료
issue
한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
. 2006 2006:1529-1532
Author
Hsieh, C.H.
Sha, Y.A.
Su, P.J.
Chang, K.H.
Chen,
C.H
.
Hsiao, C.C.
Shiu, J.W.
Fuh, S.Y.
Cheng, W.Y.
Liao, Y.C.
Yang, J.C.
Lo, K.L.
Lee, D.W.
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Chang, Y.P.
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A 3nm CMOS FinFlex™ Platform Technology with Enhanced Power Efficiency and Performance for Mobile SoC and High Performance Computing Applications
회의자료
issue
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2022 International. :27.5.1-27.5.4 Dec, 2022
Author
Wu, Shien-Yang
Chang,
C.H
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Chiang, M.C.
Lin, C.Y.
Liaw, J.J.
Cheng, J.Y.
Yeh, J.Y.
Chen, H.F.
Chang, S.Y.
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Liang, M.S.
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Lin, C.J.
Liang, C.S.
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Li, C.T.
Chen,
C.H
.
Hsieh
,
C.H
.
Liu, H.H.
Chen, P.N.
Chen, C.C.
Chen, R.
Yeo, Y.C.
Chui, C.O.
Chang, W.
Lee, T.L.
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Lin, H.J.
Chen, K.W.
Tsai, M.H.
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Chen, X.M.
Cheng, Y.K.
Wang,
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Shue, W.
Ku, Y.
Jang, S. M.
Cao, M.
Lu, L.C.
Chang, T.S.
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Full Text (IEEE)
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Critical Process Features Enabling Aggressive Contacted Gate Pitch Scaling for 3nm CMOS Technology and Beyond
회의자료
issue
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2022 International. :27.1.1-27.1.4 Dec, 2022
Author
Chang, Chih-Hao
Chang, V.S.
Pan, K.H.
Lai, K.T.
Lu, J. H.
Ng, J.A.
Chen, C.Y.
Wu, B.F.
Lin, C.J.
Liang, C.S.
Tsao, C.P.
Mor, Y.S.
Li, C.T.
Lin, T.C.
Hsieh
,
C.H
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Chen, P.N.
Hsu, H.H.
Chen, J.H.
Chen, H.F.
Yeh, J.Y.
Chiang, M.C.
Lin, C.Y.
Liaw, J.J.
Wang,
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Lee, S.B.
Chen, C.C.
Lin, H.J.
Chen, R.
Chen, K.W.
Chui, C.O.
Yeo, Y.C.
Huang, K.B.
Lee, T.L.
Tsai, M.H.
Chen, K.S.
Lu, Y.C.
Jang, S.M.
Wu, S.-Y.
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Full Text (IEEE)
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Study of Stability Indices for Special Protection System in Taiwan
회의자료
issue
2014 Tenth International Conference on Intelligent Information Hiding and Multimedia Signal Processing Intelligent Information Hiding and Multimedia Signal Processing (IIH-MSP), 2014 Tenth International Conference on. :815-818 Aug, 2014
Author
Chou, Y.T.
Wang, Y.-J.
Hsieh
,
C.H
.
Wang, R.-Y.
Shah, S.K.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
9
Experimental validation of an algorithm for cooperative boundary tracking
회의자료
issue
Proceedings of the 2005, American Control Conference, 2005. American Control Conference American Control Conference, 2005. Proceedings of the 2005. :1078-1083 vol. 2 2005
Author
Hsieh
,
C.H
.
Zhipu Jin
Marthaler, D.
Nguyen, B.Q.
Tung, D.J.
Bertozzi, A.L.
Murray, R.M.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
10
Direct plating of Cu on ALD TaN for 45nm node Cu BEOL metallization
회의자료
issue
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2004. IEDM Technical Digest. IEEE International. :337-340 2004
Author
Shih,
C.H
.
Su, H.W.
Lin, C.J.
Ko, T.
Chen,
C.H
.
Huang, J.J.
Chou, S.W.
Peng,
C.H
.
Hsieh
,
C.H
.
Tsai, M.H.
Shue, W.
Yu,
C.H
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Liang, M.S.
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Database : IEEE Xplore Digital Library
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