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51

학술저널

issue
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 53(10):2763-2771 Oct, 2018
Author
Hsieh, S.
Kao, C.
Hsieh, C.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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52

학술저널

issue
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 53(9):2595-2603 Sep, 2018
Author
Hsieh, S.
Hsieh, C.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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55

학술저널

issue
IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 67(1):285-296 Mar, 2018
Author
Lin, L.
Hsieh, S.
Chen, R.
Xu, L.
Lee, C.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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59

학술저널

issue
IEEE Transactions on Cybernetics IEEE Trans. Cybern. Cybernetics, IEEE Transactions on. 46(12):3342-3350 Dec, 2016
Author
Hsieh, S.
Li, Y.
Tien, C.
Chang, C.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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60

학술저널

issue
IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 65(3):1248-1262 Sep, 2016
Author
Xu, L.
Lin, L.
Zhou, S.
Hsieh, S.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
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