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The de-bias effect of gate current in InP HEMT MMICs
회의자료
issue
16th IPRM. 2004 International Conference on Indium Phosphide and Related Materials, 2004. Indium Phosphide and Related Materials Indium Phosphide and Related Materials, 2004. 16th IPRM. 2004 International Conference on. :393-396 2004
Author
Chou, Y.C.
Truong, M.
Leung,
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Grundbacher, R.
Lai, R.
Eng
,
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Block, T.
Oki, A.
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Full Text (IEEE)
32
Degradation analysis of 0.1 /spl mu/m InP HEMTs using low frequency noise characterization
회의자료
issue
16th IPRM. 2004 International Conference on Indium Phosphide and Related Materials, 2004. Indium Phosphide and Related Materials Indium Phosphide and Related Materials, 2004. 16th IPRM. 2004 International Conference on. :619-622 2004
Author
Chou, Y.C.
Guan, H.
Li, G.P.
Lai, R.
Grundbacher, R.
Leung,
D
.
Eng
,
D
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Block, T.
Oki, A.
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Database : IEEE Xplore Digital Library
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Full Text (IEEE)
33
On the development of automatic assembly line for InP HEMT MMICs
회의자료
issue
International Conference onIndium Phosphide and Related Materials, 2003. Indium phosphide and related materials Indium Phosphide and Related Materials, 2003. International Conference on. :476-479 2003
Author
Chou, Y.C.
Barsky, M.
Grundbacher, R.
Lai, R.
Leung,
D
.
Bonnin, R.
Akbany, S.
Tsui, S.
Kan, Q.
Eng
,
D
.
Oki, A.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
34
On the investigation of gate metal interdiffusion in GaAs HEMTs
회의자료
issue
25th Annual Technical Digest 2003. IEEE Gallium Arsenide Integrated Circuit (GaAs IC) Symposium, 2003. GaAs IC symposium Gallium Arsenide Integrated Circuit (GaAs IC) Symposium, 2003. 25th Annual Technical Digest 2003. IEEE. :63-66 2003
Author
Chou, Y.C.
Leung,
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.
Lai, R.
Grundbacher, R.
Liu, P.H.
Biedenbender, M.
Kan, Q.
Eng
,
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Wojtowicz, M.
Oki, A.
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Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
35
Reliability investigation of 0.25 /spl mu/m AlGaN/GaN HEMTs under elevated temperature lifetesting
회의자료
issue
Proceedings GaAs Reliability Workshop, 2003. GaAs Reliability Workshop, 2003. Proceedings. :137-153 2003
Author
Chou, Y.C.
Smorchkova, I.
Leung,
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Wojitowicz, M.
Grundbacher, R.
Callejo, L.
Kan, O.
Lai, R.
Liu, P.H.
Eng
,
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Tsai, R.
Oki, A.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
36
High reliability of 0.07 /spl mu/m pseudomorphic InGaAs/InAlAs/InP HEMT MMICs on 3-inch InP substrates
회의자료
issue
Conference Proceedings. 14th Indium Phosphide and Related Materials Conference (Cat. No.02CH37307) Indium phosphide and related materials Indium Phosphide and Related Materials Conference, 2002. IPRM. 14th. :365-368 2002
Author
Chou, Y.C.
Leung,
D
.
Lai, R.
Grundbacher, R.
Barsky, M.
Tsai, R.
Eng
,
D
.
Wojtowicz, M.
Nishimoto, M.
Liu, P.H.
Oki, A.
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DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
37
0.1 /spl mu/m InGaAs/InAlAs/InP HEMT MMICs - a flight qualified technology
회의자료
issue
24th Annual Technical Digest Gallium Arsenide Integrated Circuit (GaAs IC) Symposiu Gallium arsenide integrated circuit symposium Gallium Arsenide Integrated Circuit (GaAs IC) Symposium, 2002. 24th Annual Technical Digest. :77-80 2002
Author
Chou, Y.C.
Leung,
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Lai, R.
Grundbacher, R.
Barsky, M.
Kan, Q.
Tsai, R.
Eng
,
D
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Wojtowicz, M.
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Liu, P.H.
Olson, S.
Oki, A.
Streit,
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Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
38
Evolution of DC and RF degradation induced by high-temperature accelerated lifetest of pseudomorphic GaAs and InGaAs/InAlAs/InP HEMT MMICs
회의자료
issue
2002 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings. 40th Annual (Cat. No.02CH37320) Reliability physics symposium Reliability Physics Symposium Proceedings, 2002. 40th Annual. :241-247 2002
Author
Chou, Y.C.
Leung,
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Lai, R.
Grundbacher, R.
Eng
,
D
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Scarpulla, J.
Barsky, M.
Liu, P.H.
Biedenbender, M.
Oki, A.
Streit,
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Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
39
High reliability of 0.1 /spl mu/m InGaAs/InAlAs/InP HEMT MMICs on 3-inch InP production process
회의자료
issue
GaAs IC Symposium. IEEE Gallium Arsenide Integrated Circuit Symposium. 23rd Annual Technical Digest 2001 (Cat. No.01CH37191) GaAs IC symposium Gallium Arsenide Integrated Circuit (GaAs IC) Symposium, 2001. 23rd Annual Technical Digest. :174-179 2001
Author
Chou, Y.C.
Leung,
D
.
Lai, R.
Scarpulla, J.
Barsky, M.
Grundbacher, R.
Eng
,
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.
Liu, P.H.
Oki, A.
Streit,
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.C.
DB Label
Database : IEEE Xplore Digital Library
원문보기
Full Text (IEEE)
40
High reliability non-hermetic 0.1 /spl mu/m GaAs pseudomorphic HEMT MMIC amplifiers
회의자료
issue
GaAs IC Symposium. IEEE Gallium Arsenide Integrated Circuit Symposium. 23rd Annual Technical Digest 2001 (Cat. No.01CH37191) GaAs IC symposium Gallium Arsenide Integrated Circuit (GaAs IC) Symposium, 2001. 23rd Annual Technical Digest. :170-173 2001
Author
Chou, Y.C.
Leung,
D
.
Lai, R.
Scarpulla, J.
Biedenbender, M.
Grundbacher, R.
Eng
,
D
.
Liu, P.H.
Oki, A.
Streit,
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.C.
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Database : IEEE Xplore Digital Library
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